透过率测量系统

【概述】光谱透过率是指从光学系统出射的光强与入射光学系统的光强之比，反映了整个光学系统的光强损耗情况。透明、半透明物体（包括液体、固体等）的光谱透过率的测量具有重大的现实意义和应用价值，例如根据滤光片的光谱透过率来评价滤光片的质量好坏；玻璃透过率是检测玻璃合格与否的重要指标；医疗卫生、工业生产、化工合成等领域中液体的透明性检测。与传统实验测定透过率相比，以光谱仪为关键搭建的光谱套件，其测试简单高效，实验结果精确可靠，使科研人员脱离了繁杂的实验操作，减少了人为误差。同时，还可以根据不断变化的实验需求变换设备布局；不断升级的实验操作和应用使得现在和将来的多种实验应用成为可能。

【特点】~样品安装方便，配套专业夹具。~操作简便、重复性好、检测快速。~方便读取全谱的透过率值和曲线。~组件通用性强，方便扩展应用。

【应用】~滤光片的衰减性能测量。~玻璃等材料的透光性能测量。~材料对特定波长的吸收性能测量。 反射率测量系统在太阳能电池板制造，提高电池板对光的反射利用。杭州半导体激光测量系统批量定制

Brolight杭州博源光电科技有限公司生产的测量系统产品型号：【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究?！綛IX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量?！維IX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析；微米级元器件检测；材料应力温升分析；化学反应温度分析；化工工艺温度监测?！綛IX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量；物质/材料的漫反射测量；物质/材料的颜色测量?！綛IX-8812,透过率测量系统】应用于滤光片的衰减性能测量；玻璃等材料的透光性能测量；材料对特定波长的吸收性能测量。【BIX-8813,吸光度测量系统】应用于物质的吸光度测量研究、浓度的定量测量、吸收特性测量分析。【BIX-8814,荧光测量系统】应用于生化领域组分分析荧光测量；医药领域的定量分析测量；矿物材料等的荧光光谱特性测量。【BIX-8815,拉曼测量系统】应用于珠宝、文物贵重物品鉴定;药品成分检测分析;瓜果蔬菜等食品快速检测;化工环保监察监测。浙江半导体激光测量系统推荐厂家透过率测量系统，借助光传播特性，测量光线透过物质程度，在光学镜片制造应用多。

反射率测量系统

【概述】反射率是物质/材料的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美平整表面上的反射是镜面反射，在毛糙表面上的反射是漫反射，而光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，也可以测量分析物体的反射的颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，可采用光纤进行取样测量，而对于曲面样品，采用积分球取样测量更为合适。

【特点】~样品放置方便，夹具要求不高。~操作简便、重复性好、检测快速。~方便读取全谱的反射率值和曲线。~可通过积分球采样测量材料颜色。

【应用】~物质/材料的镜面反射测量。~物质/材料的漫反射测量。~物质/材料的颜色测量。

Brolight的测量系统产品：【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究?！綛IX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量?！維IX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析；微米级元器件检测；材料应力温升分析；化学反应温度分析；化工工艺温度监测?！綛IX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量；物质/材料的漫反射测量；物质/材料的颜色测量?！綛IX-8812,透过率测量系统】应用于滤光片的衰减性能测量；玻璃等材料的透光性能测量；材料对特定波长的吸收性能测量?！綛IX-8813,吸光度测量系统】应用于物质的吸光度测量研究、浓度的定量测量、吸收特性测量分析。【BIX-8814,荧光测量系统】应用于生化领域组分分析荧光测量；医药领域的定量分析测量；矿物材料等的荧光光谱特性测量。【BIX-8815,拉曼测量系统】应用于珠宝、文物贵重物品鉴定;药品成分检测分析;瓜果蔬菜等食品快速检测;化工环保监察监测。吸光度测量系统在生物化学科研，研究蛋白质结构与功能关系。

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BIX-8801，LD/LED光源测量系统特点：可按需配置，集成灵活方便，支持多维数据同步分析。杭州半导体激光测量系统批量定制

BIX-8805辐照度测量系统

【概述】由光谱仪、光纤、余弦矫正器、支架组成。其中光谱仪通过光纤与已知表面积的余弦校正器连接，整套系统通过NIST可溯源标准光源进行辐射定标，可以实现UVA、UVB、UVC等各波段的紫外线强度检测，以及特定波段内辐照度、辐射通量、辐射强度等一系列参数的精确测量。装置测试简单，使用方便，可广泛应用于紫外消毒灯，紫外荧光灯辐照强度测定、LED光辐射安全测量等研究领域。

【特点】~操作简便、重复性好、检测快速。~体积小、便于携带。~NIST可溯源认证的校准。~波长范围包括200-450nm紫外波段，紫外灵敏度更高。~软件兼容XP,Windows7,Windows8,Windows10。~USB2.0数据传输和供电，支持RS232通信。

【应用】~紫外标准检测计量。~LED光辐射安全测量。~植物生长/PAR/植物光生物学。~紫外线固化系统的表征。~光稳定性测量。~光谱反射率/吸光度/透过率测量。~荧光测量。 杭州半导体激光测量系统批量定制