辐照度测量系统

【概述】由光谱仪、光纤、余弦矫正器、支架组成。其中光谱仪通过光纤与已知表面积的余弦校正器连接，整套系统通过NIST可溯源标准光源进行辐射定标，可以实现UVA、UVB、UVC等各波段的紫外线强度检测，以及特定波段内辐照度、辐射通量、辐射强度等一系列参数的精确测量。装置测试简单，使用方便，可广泛应用于紫外消毒灯，紫外荧光灯辐照强度测定、LED光辐射安全测量等研究领域。

【特点】~操作简便、重复性好、检测快速。~体积小、便于携带。~NIST可溯源认证的校准。~波长范围包括200-450nm紫外波段，紫外灵敏度更高。~软件兼容XP,Windows7,Windows8,Windows10。~USB2.0数据传输和供电，支持RS232通信。

【应用】~紫外标准检测计量。~LED光辐射安全测量。~植物生长/PAR/植物光生物学。~紫外线固化系统的表征。~光稳定性测量。~光谱反射率/吸光度/透过率测量。~荧光测量。 拉曼测量系统为纳米材料研究，表征纳米材料结构，推动纳米技术应用。红外辐射测量系统价格

SIX-8001红外辐射测量系统

【概述】实际是一套有源热源检测台式红外热像仪，通过热成像及测温技术直观呈现热缺陷或整体温度分布，并可以进行过程监控。通过本系统，可以助力研究电路板热分析、微米级元器件检测、材料应力温升分析、材料热力性能分析、化学反应温度分析、化工工艺温度监测等。

【特点】~桌面在线式设计，着重过程检测和记录。~可调焦式设计，全视距清晰，见微见著。~镜头分辨力50微米，热显微成像。~专业PC端软件，丰富的检测报告内容。

【应用】~电路板热分析。~微米级元器件检测。~材料应力温升分析。~化学反应温度分析。~化工工艺温度监测。 BIX-8805 辐照度测量系统联系方式拉曼测量系统，基于拉曼散射效应，分析物质分子结构，助力材料科学深入研究。

红外辐射测量系统

【概述】实际是一套有源热源检测台式红外热像仪，通过热成像及测温技术直观呈现热缺陷或整体温度分布，并可以进行过程监控。通过本系统，可以助力研究电路板热分析、微米级元器件检测、材料应力温升分析、材料热力性能分析、化学反应温度分析、化工工艺温度监测等。

【特点】~桌面在线式设计，着重过程检测和记录。~可调焦式设计，全视距清晰，见微见著。~镜头分辨力50微米，热显微成像。~专业PC端软件，丰富的检测报告内容。

【应用】~电路板热分析。~微米级元器件检测。~材料应力温升分析。~化学反应温度分析。~化工工艺温度监测。

Brolight杭州博源光电科技有限公司专业生产测量系统产品：【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究。【BIX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量。【SIX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析；微米级元器件检测；材料应力温升分析；化学反应温度分析；化工工艺温度监测。【BIX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量；物质/材料的漫反射测量；物质/材料的颜色测量。【BIX-8812,透过率测量系统】应用于滤光片的衰减性能测量；玻璃等材料的透光性能测量；材料对特定波长的吸收性能测量。【BIX-8813,吸光度测量系统】应用于物质的吸光度测量研究、浓度的定量测量、吸收特性测量分析。【BIX-8814,荧光测量系统】应用于生化领域组分分析荧光测量；医药领域的定量分析测量；矿物材料等的荧光光谱特性测量。【BIX-8815,拉曼测量系统】应用于珠宝、文物贵重物品鉴定;药品成分检测分析;瓜果蔬菜等食品快速检测;化工环保监察监测。反射率测量系统在太阳能电池板制造，提高电池板对光的反射利用。

BIX-8801，LD/LED光源测量系统

【概述】LD和LED是较常见的半导体光源，在工业和科研领域都有着广泛的应用，其光谱特征和功率数值是重要的性能指标。BIX-8801系统提供了光源驱动、器件安装、光采样和传导、光谱和光功率测量等所有涉及的组件。系统包含了以电流驱动控制、温度驱动控制和器件安装组件为关键的解决方案，电流驱动控制器和温度驱动控制都可以提供多种规格，为LD和LED器件的研究提供相匹配的设备支撑。

【特点】~选配件丰富，可按需配置。~模块化设计，集成灵活方便。~平台化软件，支持所有设备。~支持多维数据同步分析。

【应用】~半导体发光器件研究。~光电材料特性研究。~激光系统驱动控制。~控温设备驱动。 工业照明产品生产，LD/LED 光源测量系统保障产品光参数一致性。红外辐射测量系统价格

反射率测量系统在建筑材料选择上，评估材料反射性能，降低能耗。红外辐射测量系统价格

杭州博源光电科技有限公司的测量系统产品型号：【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究。【BIX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量。【SIX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析；微米级元器件检测；材料应力温升分析；化学反应温度分析；化工工艺温度监测。【BIX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量；物质/材料的漫反射测量；物质/材料的颜色测量。【BIX-8812,透过率测量系统】应用于滤光片的衰减性能测量；玻璃等材料的透光性能测量；材料对特定波长的吸收性能测量。【BIX-8813,吸光度测量系统】应用于物质的吸光度测量研究、浓度的定量测量、吸收特性测量分析。【BIX-8814,荧光测量系统】应用于生化领域组分分析荧光测量；医药领域的定量分析测量；矿物材料等的荧光光谱特性测量。【BIX-8815,拉曼测量系统】应用于珠宝、文物贵重物品鉴定;药品成分检测分析;瓜果蔬菜等食品快速检测;化工环保监察监测。红外辐射测量系统价格