ICT治具的设计和制作工艺流程，设计加工控制要点：（1）一般治具的组件构成。所需要主要材料规格及用途。（2）针板制作工艺。对针点较密集处必须用3mm加强板来固定针套，并在该区域针板对应的底部及四周要尽量多布放支撑柱，以增加针板的机械强度，防止测试时因作用力过大，导致针板弯曲变形，另外在针板的其他区域要均衡地布放支撑柱，针板上的弹簧分布要对称和均衡，使载板水平放置且受力均衡。（3）压板制作工艺。压板要确保下压测试时载板不弯曲变形，这样既保证组件板平贴在载板上，又保证测试探针与测试焊盘接触良好。（a）除了组装顶在组件板上的压棒外，还应在载板放置待测组件板的四周对称地布放载板平衡柱，避免测试时载板受力集中在测试板区域，而使载板和测试组件板发生弯曲变形；（b）通过固定在压板上的缓冲下压工装，如图4所示，在BGA元件的散热片正上方施加8N～10N的元件的密集区域，造成该区域无法施加压棒，应在插件插座正上方适当位置拖加缓冲压条，以防止测试时造成板弯曲变形。PCBA制作ICT治具的注意事项：被测点应离其附近零件(位于同一面者)至少0.100＂。济南ICT自动化测试治具直销厂家

ICT测试治具的针应该如何保养？1、测试针擦拭时应该要注意使用防静电刷是安全和快速的方法。金属刷可能会损害针头或镀层，造成不顺利的测试结果。2、对ICT测试环境保养，保持环境干净。测试环境是弄脏测试针主要的促成因素，空气传播中的污染物，像灰尘会掉落在针头上引起接触问题。一个好的环境保护会确保测试针的清洁度。3、ICT测试针按正确的流程操作测试PCB板时还有一个因素要考虑，测试太厚松香的板子不只造成不良的电气接触，也会留住松香在测试针上造成接下来的测试。一个良好的流程控制对于减低松香在PCB板上是相当重要的。ICT测试仪器报价ICT测试治具通过设置所述浮动机构能保证雕刻工具始终抵压在待测试电路板上。

常见的测试治具有哪些？1、钻孔治具：钻孔治具是一种可借由移动模具以导引麻花钻孔设备或其他钻孔装置到每个洞的准确中心位置，并可在多个可互换零件上加速反复在洞孔中心定位的治具类型，主要应用于制造业这些地方，如CNC机床，具有自动移动工具到正确位置，提高设备精度度等特点。2、功能测试治具：功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序，以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助设备，主要应用于模拟、数字、存储器、RF和电源电路等领域，适用于产品生产过程中及出货时功能检测，有利于提高产品的质量和测试效率。

ICT测试治具能够全检出的零件有哪些?ICT测试治具能够在短短的数秒钟内，全检出组装电路板上零件：电阻、电容、电感、电晶体、FET、LED普通二极体、稳压二极体、光藕器、IC等零件，是否在我们设计的规格内运作。测试治具能够在短时间内测试出产品的不良，如组件漏件、反向、错件、空焊、短路等问题，将这些问题以印表机印出测试结果，包括故障位置、零件标准值、测试值，以供维修人员参考。ICT测试治具对技术要求较低，即使对产品不太解，也可以将测试不良的消息进行统计，生产管理人员加以分析，可以找出各种不良的产生原因，包括人为的因素在内，使之各个解决、完善、指正，藉以提升电路板制造及品质能力。PCBA制作ICT治具注意两被测点或被测点与预钻孔之中心距较好不小于0.050＂(1.27mm)。

ICT技术：ICT(In-CircuitTest)，即在线测试技术，作为电子产品印制板组装加工中的重要测试手段，已为大多数现代化电子企业所采用。它使用一系列测试探针和测试夹具，在一个电路板的一面或两面来测试制造过程中的电气连接。每个测试探针施加一个力在一个特定的电路板位置，称为测试点，由设计确定。在测试过程中，所有这些测试点力的联合作用使电路板产生弯曲，如果应力值足够高，焊点可能会失效，PCB板上的元件也将产生超过允许范围的应力。ICT治具验收审核标准：天板同底版结合是否稳定压棒分布是否合理，是否有可能压到PCBA上零件线材。北京ICT仪器价格

ICT测试治具能够对中小规模的集成电路进行功能测试。济南ICT自动化测试治具直销厂家

测试针带动ICT测试冶具的运行吗？随着信息技术时代的发展，而今信息化表示了世界发展的潮流。信息产业不仅推动了全球的经济发展，而且成为科技创新的中心力量。ICT市场前景广阔，那ICT测试治具来说吧：ICT测试冶具是整个ICT设计、流片、应用过程中不可或缺的一环，它不仅可帮助厂商大幅节省测试成本，且测试结果直观可靠。测试针是ICT测试冶具中的重要零件之一，那么它主要起到了什么作用呢？1、增强耐用度：ICT测试冶具测试针设计使弹簧空间比传统探针要大，因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。2、独有的一直不间断电接触设计：行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值，彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。3、至目标测点准确度误差更严谨：ICT测试冶具的测试针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点准确度。ICT测试冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使ICT和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列较高频率可达2000MHz。济南ICT自动化测试治具直销厂家